Introduction to Scanning Transmission Electron Microscopy
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ISBN-13:
9781859960660
Veröffentl:
1997
Erscheinungsdatum:
15.06.1997
Seiten:
128
Autor:
Keyse
Gewicht:
191 g
Format:
234x156x7 mm
Sprache:
Englisch
Beschreibung:
STEM is a discipline of importance to a growing number of microscopists. This book is essential reading for undergraduates, postgraduates and researchers requiring an up-to-date and comprehensive introduction to this rapidly growing, state of the art technique.
Why STEM? - STEM versus TEM; STEM Optics; The specimen; Imaging in the STEM; Diffraction in the STEM; Microanalysis in the STEM; Mapping in the STEM; Limits to STEM and advanced STEM; Glossary; Further reading; Index
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