Advances in Imaging and Electron Physics
Volume 178
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ISBN-13:
9780124077010
Veröffentl:
2013
Erscheinungsdatum:
25.06.2013
Seiten:
280
Autor:
Peter W Hawkes
Gewicht:
539 g
Format:
236x156x22 mm
Sprache:
Englisch
Beschreibung:
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy.This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
Generalized axiomatic scale-space theoryTony Lindeberg
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